Repozitorij Univerze v Novi Gorici

Iskanje po repozitoriju
A+ | A- | Pomoč | SLO | ENG

Iskalni niz: išči po
išči po
išči po
išči po
* po starem in bolonjskem študiju

Opcije:
  Ponastavi


1 - 2 / 2
Na začetekNa prejšnjo stran1Na naslednjo stranNa konec
1.
ZAČETNE FAZE RASTI ORGANSKIH POLPREVODNIKOV NA SiO2
Alen Oršulić, 2018, magistrsko delo

Opis: Pričujoče delo obravnava začetne faze rasti organskega polprevodnika N, N´-1H, 1H- perfluorobutil diciano perilen karboksamid (PDIF-CN2) na površini silicijevega dioksida (SiO2). PDIF-CN2 je bil na površino SiO2 nanešen z rotacijskim nanašalcem pod različnimi pogoji. Glede na pogoje nanosa se je spreminjala morfologija narejenih vzorcev. Morfologije so bile analizirane z mikroskopom na atomsko silo. S slik mikroskopa na atomsko silo smo z višinsko porazdelitvijo in funkcijo spektralne gostote moči pridobili podatke o prekritosti vzorcev z otoki molekul PDIF-CN2, višini otokov na površini vzorca, povprečni hrapavosti vzorca, korelacijski dolžini med otoki ter spektralni dolžini in indeksu. Z višinsko porazdelitvijo je bilo ugotovljeno, da znaša povprečna višina otokov na površini vzorcev približno 1,1 nm in da se prekritost vzorcev z molekulami povečuje s povečevanjem koncentracije raztopine in zmanjševanjem kotne hitrosti pri nanosu z rotacijskim nanašalcem. Analiza funkcije spektralne gostote moči površin je pokazala, da je pri večini vzorcev korelacijska dolžina čez celotno preiskano območje, da se povprečna hrapavost povečuje s povečevanjem koncentracije raztopine in kotne hitrosti ter da pospešek pri rotacijskem nanašanju skupaj s kotno hitrostjo vpliva na obliko fraktalov na površini vzorcev.
Ključne besede: PDIF-CN2, mikroskop na atomsko silo, rotacijsko nanašanje, Gwyddion, avtokorelacijska funkcija, funkcija spektralne gostote moči.
Objavljeno v RUNG: 24.09.2018; Ogledov: 4737; Prenosov: 166
.pdf Celotno besedilo (2,26 MB)

2.
Iskanje izvedeno v 0.02 sek.
Na vrh