Repozitorij Univerze v Novi Gorici

Iskanje po repozitoriju
A+ | A- | Pomoč | SLO | ENG

Iskalni niz: išči po
išči po
išči po
išči po
* po starem in bolonjskem študiju

Opcije:
  Ponastavi


1 - 3 / 3
Na začetekNa prejšnjo stran1Na naslednjo stranNa konec
1.
Preiskave polimernih tankih slojev z mikroskopom na atomsko silo
Jan Ferjančič, 2010, diplomsko delo

Najdeno v: ključnih besedah
Povzetek najdenega: ...naBeseda">naloge, organske sončne celice, polimerni tanki sloji, naBeseda">naBeseda">naBeseda">naBeseda">naBeseda">mikroskop naBeseda">na naBeseda">atomsko naBeseda">silo, morfologija polimerne plasti, ...
Ključne besede: diplomske naloge, organske sončne celice, polimerni tanki sloji, mikroskop na atomsko silo, morfologija polimerne plasti
Objavljeno: 15.10.2013; Ogledov: 3081; Prenosov: 205
URL Polno besedilo (0,00 KB)
Gradivo ima več datotek! Več...

2.
Conductive atomic force microscopy investigations of quantum dots and quantum rings
Tomaž Mlakar, 2011, magistrsko delo

Najdeno v: ključnih besedah
Povzetek najdenega: ...kvantne pike, kvantni obroči, naBeseda">naBeseda">naBeseda">naBeseda">naBeseda">mikroskop naBeseda">na naBeseda">atomsko naBeseda">silo, modeliranje prevodnosti, metoda prenosnih...
Ključne besede: kvantne pike, kvantni obroči, mikroskop na atomsko silo, modeliranje prevodnosti, metoda prenosnih matrik, magistrske naloge
Objavljeno: 15.10.2013; Ogledov: 2217; Prenosov: 186
URL Polno besedilo (0,00 KB)
Gradivo ima več datotek! Več...

3.
ZAČETNE FAZE RASTI ORGANSKIH POLPREVODNIKOV NA SiO2
Alen Oršulić, 2018, magistrsko delo

Opis: Pričujoče delo obravnava začetne faze rasti organskega polprevodnika N, N´-1H, 1H- perfluorobutil diciano perilen karboksamid (PDIF-CN2) na površini silicijevega dioksida (SiO2). PDIF-CN2 je bil na površino SiO2 nanešen z rotacijskim nanašalcem pod različnimi pogoji. Glede na pogoje nanosa se je spreminjala morfologija narejenih vzorcev. Morfologije so bile analizirane z mikroskopom na atomsko silo. S slik mikroskopa na atomsko silo smo z višinsko porazdelitvijo in funkcijo spektralne gostote moči pridobili podatke o prekritosti vzorcev z otoki molekul PDIF-CN2, višini otokov na površini vzorca, povprečni hrapavosti vzorca, korelacijski dolžini med otoki ter spektralni dolžini in indeksu. Z višinsko porazdelitvijo je bilo ugotovljeno, da znaša povprečna višina otokov na površini vzorcev približno 1,1 nm in da se prekritost vzorcev z molekulami povečuje s povečevanjem koncentracije raztopine in zmanjševanjem kotne hitrosti pri nanosu z rotacijskim nanašalcem. Analiza funkcije spektralne gostote moči površin je pokazala, da je pri večini vzorcev korelacijska dolžina čez celotno preiskano območje, da se povprečna hrapavost povečuje s povečevanjem koncentracije raztopine in kotne hitrosti ter da pospešek pri rotacijskem nanašanju skupaj s kotno hitrostjo vpliva na obliko fraktalov na površini vzorcev.
Najdeno v: ključnih besedah
Povzetek najdenega: ...PDIF-CN2, naBeseda">naBeseda">naBeseda">naBeseda">naBeseda">mikroskop naBeseda">na naBeseda">atomsko naBeseda">silo, rotacijsko naBeseda">nanaBeseda">našanje, Gwyddion, avtokorelacijska... ...so bile anaBeseda">nalizirane z naBeseda">naBeseda">naBeseda">mikroskopom naBeseda">na naBeseda">atomsko naBeseda">naBeseda">naBeseda">silo. S slik naBeseda">naBeseda">naBeseda">mikroskopa naBeseda">na naBeseda">atomsko naBeseda">silo smo...
Ključne besede: PDIF-CN2, mikroskop na atomsko silo, rotacijsko nanašanje, Gwyddion, avtokorelacijska funkcija, funkcija spektralne gostote moči.
Objavljeno: 24.09.2018; Ogledov: 649; Prenosov: 48
.pdf Polno besedilo (2,26 MB)

Iskanje izvedeno v 0 sek.
Na vrh