Izpis gradiva

A+ | A- | | SLO | ENG

Naslov: Optimizacija optičnega nadzora naprave za površinsko montažo elektronskih komponent Avtorji: ID Zavrtanik, Marko (Mentor) Več o mentorju... ID Torroni, Andrea (Avtor) Datoteke: Andrea_Torroni.pdf (1,75 MB) MD5: AC11EB86F7FDC538B10878F1A56B0B5D   Jezik: Slovenski jezik Vrsta gradiva: Diplomsko delo/naloga Tipologija: 2.11 - Diplomsko delo Organizacija: PTF - Poslovno-tehniška fakulteta Opis: Namen diplomskega dela je odpravljanje napak na liniji za površinsko montažo elektronskih komponent (SMD). Delo na tej liniji je pokazalo, da so na izdelkih prisotne napake. Te zaradi problematičnega reševanja nepravilnosti zaustavljajo celotni proizvodni proces, za odpravljanje pa se porabi veliko časa. Proces ni več popolnoma avtomatski, kot se za to linijo zahteva. Težave nastajajo predvsem zaradi velikega števila težko predvidljivih vzrokov, ki povzročajo napake. Te lahko nastajajo na vseh napravah linije, glede na nastanek pa jih lahko zberemo v skupine. S pomočjo nekaterih izdelkov bomo analizirali vse najpogostejše napake. Raziskali bomo realne vzroke za nepravilnosti na vseh napravah na liniji in opisali rešitve za nastale težave. Te bomo z lastnimi izkušnjami tudi utemeljili. S tem delom si bodo lahko operaterji in drugi, ki jih zanima delo na tej liniji, pomagali pri reševanju napak. Opisi reševanja napak naj bi operaterje vodili k hitremu in trajnemu odpravljanju napak. Ocenili bomo, kolikšne so časovne izgube zaradi nepravilnosti oziroma kolikšen delež časovne optimizacije lahko dosežemo z odpravljanjem določenega števila napak. Cilj je doseči vsaj 5-% časovno izboljšavo na celotni proizvodnji elektronskih vezij. To bo za podjetje pomenilo znaten prihranek. Delo bo prineslo tudi nova zavedanja o pomembnosti odpravljanja napak na liniji. Ključne besede: elektronika, površinska montaža elementov, avtomatska optična inšpekcija, napake, izboljšave Kraj izida: Nova Gorica Leto izida: 2015 PID: 20.500.12556/RUNG-1990  COBISS.SI-ID: 4049147  NUK URN: URN:SI:UNG:REP:AMQ8KW7P Datum objave v RUNG: 05.10.2015 Število ogledov: 8022 Število prenosov: 295 Metapodatki:    Citiraj gradivo Navadno besedilo BibTeX EndNote XML EndNote/Refer RIS ABNT ACM Ref AMA APA Chicago 17th Author-Date Harvard IEEE ISO 690 MLA Vancouver : TORRONI, Andrea, 2015, Optimizacija optičnega nadzora naprave za površinsko montažo elektronskih komponent [na spletu]. Diplomsko delo. Nova Gorica. [Dostopano 3 april 2025]. Pridobljeno s: https://repozitorij.ung.si/IzpisGradiva.php?lang=slv&id=1990 Kopiraj citat

Skupna ocena: 0.5 1 1.5 2 2.5 3 3.5 4 4.5 5 (0 glasov) Vaša ocena: Ocenjevanje je dovoljeno samo prijavljenim uporabnikom. Objavi na: Podobna dela iz repozitorija: Conductive atomic force microscopy investigations of quantum dots and quantum rings Solution of dendritic growth in a binary alloy by a novel point automata method Kristalografske in elektronske lastnosti sestav iz področja med LiZnVO [sub] 4 in Zn [sub] 2 SiO [sub] 4 Study of initial growth of pentacene on graphene Preiskave polimernih tankih slojev z mikroskopom na atomsko silo Podobna dela iz ostalih repozitorijev: Sinteza in karakterizacija magnetnih nanodelcev za mikrovalovne absorberje elektromagnetnega valovanja Gravitacija Analiza lokalnih piezoelektričnih in feroelektričnih lastnosti tankih plasti (K[spodaj](0.5)Na[spodaj](0.5))[spodaj](0.99)Sr[spodaj](0.01)NbO[spodaj]3 Optical and magnetic properties of PbTe(Ni) Raman spectroscopy of multiphonon emission process in Ni-doped PbTe Postavite miškin kazalec na naslov za izpis povzetka. Klik na naslov izpiše podrobnosti ali sproži prenos.

Sekundarni jezik

Jezik:	Angleški jezik
Naslov:	Optimizing the optical control on SMD line devices
Opis:	The thesis has as a purpose the optimization and the debugging of SMD line. Working on this line has shown that there are some defects on the products. Errors block the entire production process for problem solving and require time and operators' work to deal with them. The process isn't fully automatic anymore, as required for this line. The problems are mainly due to the large number of causes of errors, that are difficult to predict. Errors can occur on all devices on the line. According to the fault we can collect problems in groups. A lot of time and strength is wasted because of this problem. With the help of some products we will analyze all the most common mistakes. We will investigate the real causes of the irregularities on all devices on the line and provide solutions to solve problems. We will use our own experience to justify that. This work will help operators and others who are interested in working on this line, in order to assist them when solving defects. Description of how to solve such problems will guide the operators to a rapid and lasting correction of errors. We will evaluate to what extent irregularities cause a waste of time and what percentage of time optimization can be achieved by eliminating a certain number of errors. The aim is to achieve at least a 5-% in time improvement within the entire production of electronic circuits. That will mean significant savings for the company. This work will bring new awareness of the importance of eliminating defects on the line.
Ključne besede:	electronics, surface mount technology, automated optical inspection, defects, improvements

Nazaj