Repozitorij Univerze v Novi Gorici

Izpis gradiva
A+ | A- | Pomoč | SLO | ENG

Naslov:High resolution beam profiling of X-ray free electron laser radiation by polymer imprint development
Avtorji:ID Rösner, Benedikt (Avtor)
ID Döring, Florian (Avtor)
ID Rebernik Ribič, Primož (Avtor)
ID Gauthier, David (Avtor)
ID Principi, Emiliano (Avtor)
ID Masciovecchio, Claudio (Avtor)
ID Zangrando, Marco (Avtor)
ID Vila-Comamala, Joan (Avtor)
ID De Ninno, Giovanni (Avtor)
ID David, Christian (Avtor)
Datoteke: Gradivo nima datotek. Gradivo je morda fizično dosegljivo v knjižnici fakultete, zalogo lahko preverite v COBISS-u. Povezava se odpre v novem oknu
Jezik:Angleški jezik
Vrsta gradiva:Delo ni kategorizirano
Tipologija:1.01 - Izvirni znanstveni članek
Organizacija:UNG - Univerza v Novi Gorici
Ključne besede:free-electron lasers, metrology, polymers, X-ray optics
Leto izida:2017
Št. strani:str. 30686-30695
Številčenje:Vol. 25, no. 24
PID:20.500.12556/RUNG-4964-a44c54ed-fc2f-c8c7-8186-65a8120bf42b Novo okno
COBISS.SI-ID:5537531 Novo okno
UDK:53
ISSN pri članku:1094-4087
DOI:10.1364/OE.25.030686 Novo okno
NUK URN:URN:SI:UNG:REP:GD14WOVT
Datum objave v RUNG:13.01.2020
Število ogledov:2949
Število prenosov:0
Metapodatki:XML RDF-CHPDL DC-XML DC-RDF
:
Kopiraj citat
  
Skupna ocena:(0 glasov)
Vaša ocena:Ocenjevanje je dovoljeno samo prijavljenim uporabnikom.
Objavi na:Bookmark and Share


Postavite miškin kazalec na naslov za izpis povzetka. Klik na naslov izpiše podrobnosti ali sproži prenos.

Gradivo je del revije

Naslov:Optics express
Skrajšan naslov:Opt. express
Založnik:Optical Society of America
ISSN:1094-4087
COBISS.SI-ID:8636438 Novo okno

Nazaj