Ključne besede: grafen, mikroskopija, atomska sila, organski polprevodniki, tanki slojiObjavljeno v RUNG: 16.06.2016; Ogledov: 5434; Prenosov: 207 Povezava na celotno besedilo
Ključne besede: grafen, mikroskopija na atomsko silo, spektroskopska elipsometrijaObjavljeno v RUNG: 16.06.2016; Ogledov: 5271; Prenosov: 231 Povezava na celotno besedilo