Ključne besede: grafen, mikroskopija, atomska sila, organski polprevodniki, tanki slojiObjavljeno v RUNG: 16.06.2016; Ogledov: 6728; Prenosov: 209 Povezava na celotno besedilo
Ključne besede: grafen, mikroskopija na atomsko silo, spektroskopska elipsometrijaObjavljeno v RUNG: 16.06.2016; Ogledov: 6563; Prenosov: 280 Povezava na celotno besedilo