Ključne besede: grafen, mikroskopija, atomska sila, organski polprevodniki, tanki slojiObjavljeno v RUNG: 16.06.2016; Ogledov: 5842; Prenosov: 208 Povezava na celotno besedilo
Ključne besede: grafen, mikroskopija na atomsko silo, spektroskopska elipsometrijaObjavljeno v RUNG: 16.06.2016; Ogledov: 5666; Prenosov: 242 Povezava na celotno besedilo