Repozitorij Univerze v Novi Gorici

Izpis gradiva
A+ | A- | Pomoč | SLO | ENG

Naslov:Characterisation of charge carrier transport in thin organic semiconductor T layers by time-of-flight photocurrent measurements
Avtorji:ID Bratina, Gvido (Avtor)
ID Pavlica, Egon (Avtor)
Datoteke: Gradivo nima datotek, ki so prostodostopne za javnost. Gradivo je morda fizično dosegljivo v knjižnici fakultete, zalogo lahko preverite v COBISS-u. Povezava se odpre v novem oknu
Jezik:Angleški jezik
Vrsta gradiva:Delo ni kategorizirano
Tipologija:1.02 - Pregledni znanstveni članek
Organizacija:UNG - Univerza v Novi Gorici
Opis:The paper reviews recent advances in characterisation of charge carrier transport in organic semiconductor layers by time-of-flight photocurrent measurements, with the emphasis on the measurements of the samples with co-planar electrodes. These samples comprised an organic semiconductor layer whose thickness is on the order of a μm or less, and thus mimic the structures of organic thin film transistors. In the review we emphasise the importance of considering spatial variation of electric field in these, essentially two-dimensional structures, in interpretation of photocurrent transients. We review the experimental details of this type of measurements and give examples that demonstrate exceptional sensitivity of the method to minute concentration of electrically active defects in the organic semiconductors as well as the capability of probing charge transport along the channels of different mobility that reside in the same sample.
Ključne besede:organic semiconductors, time of flight, mobiulity
Leto izida:2019
Št. strani:1176-130
Številčenje:64
PID:20.500.12556/RUNG-4172-41d99678-3e43-4bf9-4ebe-fa18e490f57f Novo okno
COBISS.SI-ID:5255163 Novo okno
DOI:10.1016/j.orgel.2018.09.049 Novo okno
NUK URN:URN:SI:UNG:REP:GTPN9N5O
Datum objave v RUNG:24.10.2018
Število ogledov:5055
Število prenosov:0
Metapodatki:XML DC-XML DC-RDF
:
BRATINA, Gvido in PAVLICA, Egon, 2019, Characterisation of charge carrier transport in thin organic semiconductor T layers by time-of-flight photocurrent measurements. Organic Electronics [na spletu]. 2019. Vol. 64, p. 1176–130. [Dostopano 3 april 2025]. DOI 10.1016/j.orgel.2018.09.049. Pridobljeno s: https://repozitorij.ung.si/IzpisGradiva.php?lang=slv&id=4172
Kopiraj citat
  
Skupna ocena:
0.5
1
1.5
2
2.5
3
3.5
4
4.5
5
(0 glasov)
Vaša ocena:Ocenjevanje je dovoljeno samo prijavljenim uporabnikom.
Objavi na:Bookmark and Share



Podobna dela iz ostalih repozitorijev:

Ni podobnih del

Postavite miškin kazalec na naslov za izpis povzetka. Klik na naslov izpiše podrobnosti ali sproži prenos.

Gradivo je del revije

Naslov:Organic Electronics
Založnik:Elsevier
Leto izida:2019
ISSN:1566-1199

Gradivo je financirano iz projekta

Financer:ARRS - Agencija za raziskovalno dejavnost Republike Slovenije
Številka projekta:P1-0055
Naslov:Raziskovalni program Biofizika polimerov, membran, gelov, koloidov in celic

Licence

Licenca:CC BY-NC-ND 4.0, Creative Commons Priznanje avtorstva-Nekomercialno-Brez predelav 4.0 Mednarodna
Povezava:http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/deed.sl
Opis:Najbolj omejujoča licenca Creative Commons. Uporabniki lahko prenesejo in delijo delo v nekomercialne namene in ga ne smejo uporabiti za nobene druge namene.
Začetek licenciranja:24.10.2018

Nazaj