Vaš brskalnik ne omogoča JavaScript!
JavaScript je nujen za pravilno delovanje teh spletnih strani. Omogočite JavaScript ali uporabite sodobnejši brskalnik.
Univerza v Novi Gorici
O Univerzi
Študij
Raziskave
Repozitorij Univerze v Novi Gorici
Uvodnik
Iskanje
Brskanje
Statistika
Prijava
Izpis gradiva
A+
|
A-
|
|
SLO
|
ENG
Naslov:
SEedemnajst ali sedemnAjst
Avtorji:
ID
Marušič, Franc
(Avtor)
Datoteke:
http://www2.arnes.si/~lmarus/suss/arhiv/suss-arhiv-000447.html
Jezik:
Slovenski jezik
Vrsta gradiva:
Delo ni kategorizirano
Tipologija:
1.03 - Drugi znanstveni članki
Organizacija:
UNG - Univerza v Novi Gorici
Ključne besede:
slovenščina
Leto izida:
2007
Številčenje:
[Letn.] 4, [št.] 4
PID:
20.500.12556/RUNG-470
ISSN:
1855-4466
COBISS.SI-ID:
1060091
UDK:
811.163.6
NUK URN:
URN:SI:UNG:REP:GOFYSVI4
Datum objave v RUNG:
15.10.2013
Število ogledov:
14232
Število prenosov:
29
Metapodatki:
Citiraj gradivo
Navadno besedilo
BibTeX
EndNote XML
EndNote/Refer
RIS
ABNT
ACM Ref
AMA
APA
Chicago 17th Author-Date
Harvard
IEEE
ISO 690
MLA
Vancouver
:
MARUŠIČ, Franc, 2007, SEedemnajst ali sedemnAjst. [na spletu]. 2007. Vol. 4, no. 4. [Dostopano 26 april 2025]. Pridobljeno s: http://www2.arnes.si/~lmarus/suss/arhiv/suss-arhiv-000447.html
Kopiraj citat
Skupna ocena:
0.5
1
1.5
2
2.5
3
3.5
4
4.5
5
(0 glasov)
Vaša ocena:
Ocenjevanje je dovoljeno samo
prijavljenim
uporabnikom.
Objavi na:
Podobna dela iz repozitorija:
Ultraviolet absorption and transient photocurrent spectroscopy in organic thin layers as evidence of super atomic molecular orbitals in corannulene
Characterization of organic semiconductor thin layers by transient photocurrent spectroscopy
Characterization of organic semiconductor thin layers by transient photocurrent spectroscopy
Electrocatalytic hydrogen evolution with textured iron phosphides thin films
Tungsten carbide thin films for electrochemical water splitting studies
Podobna dela iz ostalih repozitorijev:
Preučevanje izolativne CuN monoplasti z STM mikroskopijo
Schottky barrier - modern views on an old problem (Part II)
Meritev debelin ultra-tankih plasti z metodo rentgenske fotoelektronske spektroskopije
STM mikroskopija tankih plasti superprevodnika na kovini
Nanašanje tankih plasti po metodi curka ioniziranih skupkov, CIS
Postavite miškin kazalec na naslov za izpis povzetka. Klik na naslov izpiše podrobnosti ali sproži prenos.
Nazaj