Repozitorij Univerze v Novi Gorici

Izpis gradiva
A+ | A- | Pomoč | SLO | ENG

Naslov:Characterization of organic semiconductor thin layers by transient photocurrent spectroscopy
Avtorji:ID Pastukhova, Nadiia (Avtor)
ID Pavlica, Egon (Avtor)
ID Bratina, Gvido (Avtor)
Datoteke: Gradivo nima datotek, ki so prostodostopne za javnost. Gradivo je morda fizično dosegljivo v knjižnici fakultete, zalogo lahko preverite v COBISS-u. Povezava se odpre v novem oknu
Jezik:Angleški jezik
Vrsta gradiva:Neznano
Tipologija:1.12 - Objavljeni povzetek znanstvenega prispevka na konferenci
Organizacija:UNG - Univerza v Novi Gorici
Ključne besede:organic semiconductors, thin layers, spectroscopy
Leto izida:2019
Št. strani:Str. 48
PID:20.500.12556/RUNG-5019-44239983-dd13-8e42-c2b0-284266dcd1b9 Novo okno
COBISS.SI-ID:5563131 Novo okno
UDK:53
NUK URN:URN:SI:UNG:REP:2ETQMTKC
Datum objave v RUNG:10.02.2020
Število ogledov:4399
Število prenosov:0
Metapodatki:XML DC-XML DC-RDF
:
PASTUKHOVA, Nadiia, PAVLICA, Egon in BRATINA, Gvido, 2019, Characterization of organic semiconductor thin layers by transient photocurrent spectroscopy. V : Innovation in materials science & technology [na spletu]. Objavljeni povzetek znanstvenega prispevka na konferenci. Washington. 2019. [Dostopano 1 april 2025]. Pridobljeno s: https://repozitorij.ung.si/IzpisGradiva.php?lang=slv&id=5019
Kopiraj citat
  
Skupna ocena:
0.5
1
1.5
2
2.5
3
3.5
4
4.5
5
(0 glasov)
Vaša ocena:Ocenjevanje je dovoljeno samo prijavljenim uporabnikom.
Objavi na:Bookmark and Share


Postavite miškin kazalec na naslov za izpis povzetka. Klik na naslov izpiše podrobnosti ali sproži prenos.

Gradivo je del monografije

Naslov:Innovation in materials science & technology
Kraj izida:Washington
Založnik:American Chemical Society
Leto izida:2019
COBISS.SI-ID:5562875 Novo okno

Nazaj