Vaš brskalnik ne omogoča JavaScript!
JavaScript je nujen za pravilno delovanje teh spletnih strani. Omogočite JavaScript ali uporabite sodobnejši brskalnik.
Univerza v Novi Gorici
O Univerzi
Študij
Raziskave
Repozitorij Univerze v Novi Gorici
Uvodnik
Iskanje
Brskanje
Statistika
Prijava
Izpis gradiva
A+
|
A-
|
|
SLO
|
ENG
Naslov:
Analiza snovnih lastnosti dveh vzmetnih jekel
Avtorji:
ID
Batistič, Egon
(Avtor)
ID
Šarler, Božidar
(Mentor)
Več o mentorju...
Datoteke:
http://www.ung.si/~library/diplome/PTF/53Batistic.pdf
53Batistic.pdf
(2,27 MB)
MD5: 04E3066F77E433984B6CFFCA329C4F88
Jezik:
Slovenski jezik
Vrsta gradiva:
Diplomsko delo
Tipologija:
2.11 - Diplomsko delo
Organizacija:
PTF - Poslovno-tehniška fakulteta
Ključne besede:
diplomske naloge
,
tehnologija
,
numerično modeliranje
,
železo
,
jeklo
,
lastnosti
Kraj izida:
Nova Gorica
Založnik:
E. Batistič
Leto izida:
2007
Št. strani:
XIV, 89 str.
PID:
20.500.12556/RUNG-584
COBISS.SI-ID:
609787
UDK:
669.018.26
NUK URN:
URN:SI:UNG:REP:7ZXQVFFD
Datum objave v RUNG:
15.10.2013
Število ogledov:
12585
Število prenosov:
654
Metapodatki:
Citiraj gradivo
Navadno besedilo
BibTeX
EndNote XML
EndNote/Refer
RIS
ABNT
ACM Ref
AMA
APA
Chicago 17th Author-Date
Harvard
IEEE
ISO 690
MLA
Vancouver
:
BATISTIČ, Egon, 2007,
Analiza snovnih lastnosti dveh vzmetnih jekel
[na spletu]. Diplomsko delo. Nova Gorica : E. Batistič. [Dostopano 4 april 2025]. Pridobljeno s: https://repozitorij.ung.si/IzpisGradiva.php?lang=slv&id=584
Kopiraj citat
Skupna ocena:
0.5
1
1.5
2
2.5
3
3.5
4
4.5
5
(0 glasov)
Vaša ocena:
Ocenjevanje je dovoljeno samo
prijavljenim
uporabnikom.
Objavi na:
Podobna dela iz repozitorija:
Characterization of organic semiconductor thin layers by transient photocurrent spectroscopy
Električna prevodnost v 3,4,9,10 perilendianhidrid tetrakarboksilni kislini (PTCDA)
Ultraviolet absorption and transient photocurrent spectroscopy in organic thin layers as evidence of super atomic molecular orbitals in corannulene
MORFOLOŠKA ODVISNOST POVRŠINE NANOSTRUKTURIRANIH POLPREVODNIKOV OD PARAMETROV RASTI
Characterisation of charge carrier transport in thin organic semiconductor layers by time-of-flight photocurrent measurements
Podobna dela iz ostalih repozitorijev:
Schottkyjeva bariera
Preučevanje izolativne CuN monoplasti z STM mikroskopijo
Sistem za karakterizacijo organskih solarnih celic na osnovi fotonapetostne spektroskopije
Določanje benzopiran-2-ominov in N-kloro-benzopiran-2iminov s tekočinsko kromatografijo
SPECTROSCOPIC TERAHERTZ IMAGING
Postavite miškin kazalec na naslov za izpis povzetka. Klik na naslov izpiše podrobnosti ali sproži prenos.
Nazaj