Soft X-ray second harmonic generation as an interfacial probe

Izpis gradiva
A+ | A- | | SLO | ENG

Naslov:	Soft X-ray second harmonic generation as an interfacial probe
Avtorji:	ID Lam, R.K., Department of Chemistry, University of California, Berkeley, California 94720, USA (Avtor) ID De Ninno, Giovanni, LKO, University of Nova Gorica (Avtor), et al.
Datoteke:	Gradivo nima datotek, ki so prostodostopne za javnost. Gradivo je morda fizično dosegljivo v knjižnici fakultete, zalogo lahko preverite v COBISS-u.
Jezik:	Angleški jezik
Vrsta gradiva:	Delo ni kategorizirano
Tipologija:	1.01 - Izvirni znanstveni članek
Organizacija:	UNG - Univerza v Novi Gorici
Ključne besede:	Harmonic generation, free-electron laser
Leto izida:	2018
Št. strani:	023901
Številčenje:	2018, 120
PID:	20.500.12556/RUNG-5904
COBISS.SI-ID:	5311995
NUK URN:	URN:SI:UNG:REP:WXBUYZAH
Datum objave v RUNG:	27.10.2020
Število ogledov:	3846
Število prenosov:	0
Metapodatki:
:	LAM, R.K. in DE NINNO, Giovanni, 2018, Soft X-ray second harmonic generation as an interfacial probe. Physical Review Letters [na spletu]. 2018. Vol. 2018, no. 120. [Dostopano 29 april 2025]. Pridobljeno s: https://repozitorij.ung.si/IzpisGradiva.php?lang=slv&id=5904 Kopiraj citat