Ključne besede: grafen, mikroskopija, atomska sila, organski polprevodniki, tanki slojiObjavljeno v RUNG: 16.06.2016; Ogledov: 5263; Prenosov: 207 Povezava na celotno besedilo
Ključne besede: grafen, mikroskopija na atomsko silo, spektroskopska elipsometrijaObjavljeno v RUNG: 16.06.2016; Ogledov: 5107; Prenosov: 227 Povezava na celotno besedilo