Vaš brskalnik ne omogoča JavaScript!
JavaScript je nujen za pravilno delovanje teh spletnih strani. Omogočite JavaScript ali uporabite sodobnejši brskalnik.
Univerza v Novi Gorici
O Univerzi
Študij
Raziskave
Repozitorij Univerze v Novi Gorici
Uvodnik
Iskanje
Brskanje
Statistika
Prijava
Izpis gradiva
A+
|
A-
|
|
SLO
|
ENG
Naslov:
Conductive atomic force microscopy investigations of quantum dots and quantum rings
Avtorji:
ID
Mlakar, Tomaž
(Avtor)
ID
Heun, Stefan
(Mentor)
Več o mentorju...
Datoteke:
http://www.ung.si/~library/magisterij/fizika/5Mlakar.pdf
5Mlakar.pdf
(1,72 MB)
MD5: 8AEBFFFE4B7141AD9874AE6BAA204EDF
Jezik:
Angleški jezik
Vrsta gradiva:
Magistrsko delo
Tipologija:
2.09 - Magistrsko delo
Organizacija:
FPŠ - Fakulteta za podiplomski študij
Ključne besede:
kvantne pike
,
kvantni obroči
,
mikroskop na atomsko silo
,
modeliranje prevodnosti
,
metoda prenosnih matrik
,
magistrske naloge
Kraj izida:
Nova Gorica
Založnik:
T. Mlakar
Leto izida:
2011
Št. strani:
II, 58 str.
PID:
20.500.12556/RUNG-1044
COBISS.SI-ID:
2043131
UDK:
538.9
NUK URN:
URN:SI:UNG:REP:NNNZGBGS
Datum objave v RUNG:
15.10.2013
Število ogledov:
7401
Število prenosov:
390
Metapodatki:
Citiraj gradivo
Navadno besedilo
BibTeX
EndNote XML
EndNote/Refer
RIS
ABNT
ACM Ref
AMA
APA
Chicago 17th Author-Date
Harvard
IEEE
ISO 690
MLA
Vancouver
:
Kopiraj citat
Skupna ocena:
(0 glasov)
Vaša ocena:
Ocenjevanje je dovoljeno samo
prijavljenim
uporabnikom.
Objavi na:
Postavite miškin kazalec na naslov za izpis povzetka. Klik na naslov izpiše podrobnosti ali sproži prenos.
Nazaj