Repozitorij Univerze v Novi Gorici

Izpis gradiva
A+ | A- | Pomoč | SLO | ENG

Naslov:Accelerating GW calculations with optimal polarizability basis
Avtorji:ID Giacomazzi, Luigi (Lastnik avtorskih pravic)
ID Umari, Paolo, CNR‐IOM DEMOCRITOS (Avtor)
ID Giacomazzi, Luigi, SISSA – Scuola Internazionale, Superiore di Studi Avanzati, via Bonomea 265, 34126 Trieste, Italy (Avtor)
ID Qian, Xiaofeng, Massachusetts Institute of Technology, Department of Materials Science and Engineering, 77 Massachusetts Avenue, Cambridge, MA 02139, USA (Avtor)
ID Marzari, Nicola, Massachusetts Institute of Technology, Department of Materials Science and Engineering, 77 Massachusetts Avenue, Cambridge, MA 02139, USA (Avtor)
ID Baroni, Stefano, CNR‐IOM DEMOCRITOS, Theory@Elettra Group, s.s. 14 km 163.5 in Area Science Park, 34149 Basovizza (Trieste), Italy (Avtor)
ID Stenuit, Geoffrey, CNR‐IOM DEMOCRITOS, Theory@Elettra Group, s.s. 14 km 163.5 in Area Science Park, 34149 Basovizza (Trieste), Italy (Avtor)
Datoteke: Gradivo nima datotek, ki so prostodostopne za javnost. Gradivo je morda fizično dosegljivo v knjižnici fakultete, zalogo lahko preverite v COBISS-u. Povezava se odpre v novem oknu
Jezik:Angleški jezik
Vrsta gradiva:Delo ni kategorizirano
Tipologija:1.16 - Samostojni znanstveni sestavek ali poglavje v monografski publikaciji
Organizacija:UNG - Univerza v Novi Gorici
Ključne besede:GW, silicon nitride, DFT, silica, electronic structure
Status publikacije:Objavljeno
Leto izida:2011
Št. strani:18
PID:20.500.12556/RUNG-4161-78f687d8-b08e-58bf-3ace-6bc789bef792 Novo okno
COBISS.SI-ID:5251579 Novo okno
DOI:https://doi.org/10.1002/9783527638529.ch4 Novo okno
NUK URN:URN:SI:UNG:REP:0UISKBCH
Datum objave v RUNG:19.10.2018
Število ogledov:3300
Število prenosov:0
Metapodatki:XML RDF-CHPDL DC-XML DC-RDF
:
Kopiraj citat
  
Skupna ocena:(0 glasov)
Vaša ocena:Ocenjevanje je dovoljeno samo prijavljenim uporabnikom.
Objavi na:Bookmark and Share


Postavite miškin kazalec na naslov za izpis povzetka. Klik na naslov izpiše podrobnosti ali sproži prenos.

Gradivo je del monografije

Naslov:Advanced Calculations for Defects in Materials: Electronic Structure Methods
Uredniki:Audrius Alkauskas, Alfredo Pasquarello, Chris G. Van de Walle, Peter Deak, Joerg Neugebauer
Kraj izida:Boschstr. 12, 69469 Weinheim, Germany
Založnik:Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA
Leto izida:2011
ISBN:9783527410248

Nazaj