| Naslov: | Nondestructive Evaluation of Surface Roughness of Thin Films through Fractal Analysis, S Soumya |
|---|
| Avtorji: | ID Swapna, Mohanachandran Nair Sindhu, UNIVERSITY OF KERALA (Avtor), et al. |
|---|
| Datoteke: |
Gradivo nima datotek, ki so prostodostopne za javnost. Gradivo je morda fizično dosegljivo v knjižnici fakultete, zalogo lahko preverite v COBISS-u.  |
|---|
| Jezik: | Angleški jezik |
|---|
| Vrsta gradiva: | Delo ni kategorizirano |
|---|
| Tipologija: | 1.01 - Izvirni znanstveni članek |
|---|
| Organizacija: | UNG - Univerza v Novi Gorici
|
|---|
| Ključne besede: | Nondestructive Evaluation, Surface Roughness, Thin Films, Fractal Analysis |
|---|
| Leto izida: | 2017 |
|---|
| Št. strani: | 6 |
|---|
| Številčenje: | 3, 11 |
|---|
| PID: | 20.500.12556/RUNG-7489 |
|---|
| COBISS.SI-ID: | 113934083 |
|---|
| NUK URN: | URN:SI:UNG:REP:NVRAMLFQ |
|---|
| Datum objave v RUNG: | 05.07.2022 |
|---|
| Število ogledov: | 1942 |
|---|
| Število prenosov: | 0 |
|---|
| Metapodatki: |    |
|---|
|
:
|
Kopiraj citat |
|---|
| | | | Skupna ocena: | (0 glasov) |
|---|
| Vaša ocena: | Ocenjevanje je dovoljeno samo prijavljenim uporabnikom. |
|---|
| Objavi na: |  |
|---|
Postavite miškin kazalec na naslov za izpis povzetka. Klik na naslov izpiše
podrobnosti ali sproži prenos. |
