Repozitorij Univerze v Novi Gorici

Izpis gradiva
A+ | A- | SLO | ENG

Naslov:Spectroscopic Photo-IV Diagnostics of Nitride-based HEMT on Si Wafers
Avtorji:Tong, Fei (Avtor)
Yapabandara, Kosala (Avtor)
Yang, Chunwei (Avtor)
Khanal, Min (Avtor)
Jiao, Chunkun (Avtor)
Goforth, M (Avtor)
Burcu, Ozden (Avtor)
Ahyi, Ayayi (Avtor)
Hamilton, Michael (Avtor)
Niu, Guofu (Avtor)
Ewoldt, D.A. (Avtor)
Chung, G (Avtor)
Park, Minseo (Avtor)
Datoteke:Gradivo nima datotek. Gradivo je morda fizično dosegljivo v knjižnici fakultete, zalogo lahko preverite v COBISS-u. Povezava se odpre v novem oknu
Jezik:Angleški jezik
Vrsta gradiva:Delo ni kategorizirano (r6)
Tipologija:1.01 - Izvirni znanstveni članek
Organizacija:UNG - Univerza v Novi Gorici
Ključne besede:Spectroscopic Photo-IV, AlGaN/GaN HEMT
Leto izida:2013
Št. strani:1547-1548
Številčenje:49, 24
COBISS_ID:4637691 Povezava se odpre v novem oknu
URN:URN:SI:UNG:REP:TW1F9GXN
DOI:10.1049/el.2013.3404 Povezava se odpre v novem oknu
Število ogledov:1866
Število prenosov:0
Metapodatki:XML RDF-CHPDL DC-XML DC-RDF
Področja:Gradivo ni uvrščeno v področja.
:
  
Skupna ocena:(0 glasov)
Vaša ocena:Ocenjevanje je dovoljeno samo prijavljenim uporabnikom.

Postavite miškin kazalec na naslov za izpis povzetka. Klik na naslov izpiše podrobnosti ali sproži prenos.

Gradivo je del revije

Naslov:Electronics Letters
Založnik:Institution of Engineering and Technology (IET)
ISSN:0013-5194
Leto izida:2013

Nazaj