Repozitorij Univerze v Novi Gorici

Izpis gradiva
A+ | A- | Pomoč | SLO | ENG

Naslov:Depth-resolved ultra-violet spectroscopic photo current-voltage measurements for the analysis of AlGaN/GaN high electron mobility transistor epilayer deposited on Si
Avtorji:ID Ozden, Burcu, Department of Physics, Auburn University, Auburn, Alabama 36849, USA (Avtor)
ID Yang, Chungman, Department of Physics, Auburn University, Auburn, Alabama 36849, USA (Avtor)
ID Tong, Fei, Department of Physics, Auburn University, Auburn, Alabama 36849, USA (Avtor)
ID Khanal, Min, Department of Physics, Auburn University, Auburn, Alabama 36849, USA (Avtor)
ID Mirkhani, Vahid, Department of Physics, Auburn University, Auburn, Alabama 36849, USA (Avtor)
ID Hassan Sk, Mobbassar, Department of Physics, Auburn University, Auburn, Alabama 36849, USA (Avtor)
ID Ahyi, Ayayi, Department of Physics, Auburn University, Auburn, Alabama 36849, USA (Avtor)
ID Park, Minseo, Department of Physics, Auburn University, Auburn, Alabama 36849, USA (Avtor)
Datoteke: Gradivo nima datotek, ki so prostodostopne za javnost. Gradivo je morda fizično dosegljivo v knjižnici fakultete, zalogo lahko preverite v COBISS-u. Povezava se odpre v novem oknu
Jezik:Angleški jezik
Vrsta gradiva:Delo ni kategorizirano
Tipologija:1.01 - Izvirni znanstveni članek
Organizacija:UNG - Univerza v Novi Gorici
Ključne besede:AlGaN/GaN high electron mobility transistor, Depth-resolved ultra-violet spectroscopic photo current-voltage measurement
Leto izida:2014
Št. strani:4
Številčenje:17, 105
PID:20.500.12556/RUNG-2894-b26fc499-6889-4d70-ce94-54c11752b424 Novo okno
COBISS.SI-ID:4634107 Novo okno
NUK URN:URN:SI:UNG:REP:ZUDPTIG9
Datum objave v RUNG:16.01.2017
Število ogledov:4685
Število prenosov:0
Metapodatki:XML RDF-CHPDL DC-XML DC-RDF
:
Kopiraj citat
  
Skupna ocena:(0 glasov)
Vaša ocena:Ocenjevanje je dovoljeno samo prijavljenim uporabnikom.
Objavi na:Bookmark and Share


Postavite miškin kazalec na naslov za izpis povzetka. Klik na naslov izpiše podrobnosti ali sproži prenos.

Gradivo je del revije

Naslov:Applied Physics Letters
Založnik:AIP Publishing
Leto izida:2014
ISSN:0003-6951

Nazaj