Repozitorij Univerze v Novi Gorici

Izpis gradiva
A+ | A- | Pomoč | SLO | ENG

Naslov:Spectroscopic Photo-IV Diagnostics of Nitride-based HEMT on Si Wafers
Avtorji:ID Tong, Fei, Department of Physics, Auburn University, Auburn, AL 36849, USA (Avtor)
ID Yapabandara, Kosala, Department of Physics, Auburn University, Auburn, AL 36849, USA (Avtor)
ID Yang, Chunwei, Department of Physics, Auburn University, Auburn, AL 36849, USA (Avtor)
ID Khanal, Min, Department of Physics, Auburn University, Auburn, AL 36849, USA (Avtor)
ID Jiao, Chunkun, Department of Physics, Auburn University, Auburn, AL 36849, USA (Avtor)
ID Goforth, M, Department of Physics, Auburn University, Auburn, AL 36849, USA (Avtor)
ID Burcu, Ozden, Department of Physics, Auburn University, Auburn, AL 36849, USA (Avtor)
ID Ahyi, Ayayi, Department of Physics, Auburn University, Auburn, AL 36849, USA (Avtor)
ID Hamilton, Michael, Department of Electrical and Computer Engineering, Auburn University, Auburn, AL 36849, USA (Avtor)
ID Niu, Guofu, Department of Electrical and Computer Engineering, Auburn University, Auburn, AL 36849, USA (Avtor)
ID Ewoldt, D.A., Dow Corning Compound Semiconductor Solutions, LLC, MI, USA (Avtor)
ID Chung, G, Dow Corning Compound Semiconductor Solutions, LLC, MI, USA (Avtor)
ID Park, Minseo, Department of Physics, Auburn University, Auburn, AL 36849, USA (Avtor)
Datoteke: Gradivo nima datotek, ki so prostodostopne za javnost. Gradivo je morda fizično dosegljivo v knjižnici fakultete, zalogo lahko preverite v COBISS-u. Povezava se odpre v novem oknu
Jezik:Angleški jezik
Vrsta gradiva:Delo ni kategorizirano
Tipologija:1.01 - Izvirni znanstveni članek
Organizacija:UNG - Univerza v Novi Gorici
Ključne besede:Spectroscopic Photo-IV, AlGaN/GaN HEMT
Verzija publikacije:Objavljena publikacija
Leto izida:2013
Št. strani:1547-1548
Številčenje:24, 49
PID:20.500.12556/RUNG-2899-54df0517-8595-00ef-cfb1-e826b01c979d Novo okno
COBISS.SI-ID:4637691 Novo okno
DOI:10.1049/el.2013.3404 Novo okno
NUK URN:URN:SI:UNG:REP:TW1F9GXN
Datum objave v RUNG:16.01.2017
Število ogledov:4500
Število prenosov:0
Metapodatki:XML RDF-CHPDL DC-XML DC-RDF
:
Kopiraj citat
  
Skupna ocena:(0 glasov)
Vaša ocena:Ocenjevanje je dovoljeno samo prijavljenim uporabnikom.
Objavi na:Bookmark and Share


Postavite miškin kazalec na naslov za izpis povzetka. Klik na naslov izpiše podrobnosti ali sproži prenos.

Gradivo je del revije

Naslov:Electronics Letters
Založnik:Institution of Engineering and Technology (IET)
Leto izida:2013
ISSN:0013-5194

Nazaj