| Naslov: | Spectroscopic Photo-IV Diagnostics of Nitride-based HEMT on Si Wafers |
|---|
| Avtorji: | Tong, Fei (Avtor)
Yapabandara, Kosala (Avtor)
Yang, Chunwei (Avtor)
Khanal, Min (Avtor)
Jiao, Chunkun (Avtor)
Goforth, M (Avtor)
Burcu, Ozden (Avtor)
Ahyi, Ayayi (Avtor)
Hamilton, Michael (Avtor)
Niu, Guofu (Avtor)
Ewoldt, D.A. (Avtor)
Chung, G (Avtor)
Park, Minseo (Avtor) |
|---|
| Datoteke: | Gradivo nima datotek. Gradivo je morda fizično dosegljivo v knjižnici fakultete, zalogo lahko preverite v COBISS-u.  |
|---|
| Jezik: | Angleški jezik |
|---|
| Vrsta gradiva: | Delo ni kategorizirano (r6) |
|---|
| Tipologija: | 1.01 - Izvirni znanstveni članek |
|---|
| Organizacija: | UNG - Univerza v Novi Gorici |
|---|
| Ključne besede: | Spectroscopic Photo-IV, AlGaN/GaN HEMT |
|---|
| Leto izida: | 2013 |
|---|
| Št. strani: | 1547-1548 |
|---|
| Številčenje: | 49, 24 |
|---|
| COBISS_ID: | 4637691 |
|---|
| URN: | URN:SI:UNG:REP:TW1F9GXN |
|---|
| DOI: | 10.1049/el.2013.3404 |
|---|
| Število ogledov: | 3507 |
|---|
| Število prenosov: | 0 |
|---|
| Metapodatki: |     |
|---|
| Področja: | Gradivo ni uvrščeno v področja. |
|---|
|
:
|
|
|---|
| | | | Skupna ocena: | (0 glasov) |
|---|
| Vaša ocena: | Ocenjevanje je dovoljeno samo prijavljenim uporabnikom. |
|---|
Postavite miškin kazalec na naslov za izpis povzetka. Klik na naslov izpiše
podrobnosti ali sproži prenos. |