Repozitorij Univerze v Novi Gorici

Izpis gradiva
A+ | A- | Pomoč | SLO | ENG

Naslov:Nondestructive Evaluation of Surface Roughness of Thin Films through Fractal Analysis, S Soumya
Avtorji:ID Swapna, Mohanachandran Nair Sindhu, UNIVERSITY OF KERALA (Avtor), et al.
Datoteke: Gradivo nima datotek, ki so prostodostopne za javnost. Gradivo je morda fizično dosegljivo v knjižnici fakultete, zalogo lahko preverite v COBISS-u. Povezava se odpre v novem oknu
Jezik:Angleški jezik
Vrsta gradiva:Delo ni kategorizirano
Tipologija:1.01 - Izvirni znanstveni članek
Organizacija:UNG - Univerza v Novi Gorici
Ključne besede:Nondestructive Evaluation, Surface Roughness, Thin Films, Fractal Analysis
Leto izida:2017
Št. strani:6
Številčenje:3, 11
PID:20.500.12556/RUNG-7489 Novo okno
COBISS.SI-ID:113934083 Novo okno
NUK URN:URN:SI:UNG:REP:NVRAMLFQ
Datum objave v RUNG:05.07.2022
Število ogledov:1234
Število prenosov:0
Metapodatki:XML RDF-CHPDL DC-XML DC-RDF
:
Kopiraj citat
  
Skupna ocena:(0 glasov)
Vaša ocena:Ocenjevanje je dovoljeno samo prijavljenim uporabnikom.
Objavi na:Bookmark and Share


Postavite miškin kazalec na naslov za izpis povzetka. Klik na naslov izpiše podrobnosti ali sproži prenos.

Gradivo je del revije

Naslov:International Journal of Nanotechnology and Applications
Leto izida:2017

Licence

Licenca:CC BY-NC-ND 4.0, Creative Commons Priznanje avtorstva-Nekomercialno-Brez predelav 4.0 Mednarodna
Povezava:http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/deed.sl
Opis:Najbolj omejujoča licenca Creative Commons. Uporabniki lahko prenesejo in delijo delo v nekomercialne namene in ga ne smejo uporabiti za nobene druge namene.
Začetek licenciranja:05.07.2022

Nazaj