Naslov: | Nondestructive Evaluation of Surface Roughness of Thin Films through Fractal Analysis, S Soumya |
---|
Avtorji: | ID Swapna, Mohanachandran Nair Sindhu, UNIVERSITY OF KERALA (Avtor), et al. |
Datoteke: |
Gradivo nima datotek, ki so prostodostopne za javnost. Gradivo je morda fizično dosegljivo v knjižnici fakultete, zalogo lahko preverite v COBISS-u. |
---|
Jezik: | Angleški jezik |
---|
Vrsta gradiva: | Delo ni kategorizirano |
---|
Tipologija: | 1.01 - Izvirni znanstveni članek |
---|
Organizacija: | UNG - Univerza v Novi Gorici
|
---|
Ključne besede: | Nondestructive Evaluation, Surface Roughness, Thin Films, Fractal Analysis |
---|
Leto izida: | 2017 |
---|
Št. strani: | 6 |
---|
Številčenje: | 3, 11 |
---|
PID: | 20.500.12556/RUNG-7489 |
---|
COBISS.SI-ID: | 113934083 |
---|
NUK URN: | URN:SI:UNG:REP:NVRAMLFQ |
---|
Datum objave v RUNG: | 05.07.2022 |
---|
Število ogledov: | 1993 |
---|
Število prenosov: | 0 |
---|
Metapodatki: | |
---|
:
|
Kopiraj citat |
---|
| | | Skupna ocena: | (0 glasov) |
---|
Vaša ocena: | Ocenjevanje je dovoljeno samo prijavljenim uporabnikom. |
---|
Objavi na: | |
---|
Postavite miškin kazalec na naslov za izpis povzetka. Klik na naslov izpiše
podrobnosti ali sproži prenos. |