Izpis gradiva

A+ | A- | | SLO | ENG

Naslov: Sample characterization by transverse photothermal beam deflection spectrometry in skimming configuration Avtorji: ID Budasheva, Hanna (Avtor) ID Swapna, Mohanachandran Nair Sindhu (Avtor) ID Sankararaman, Sankaranarayana Iyer (Avtor) ID Korte, Dorota (Avtor) Datoteke: https://pubs.aip.org/aip/jap/article-abstract/133/21/211101/2893856/Sample-characterization-by-transverse-photothermal?redirectedFrom=fulltext   Jezik: Angleški jezik Vrsta gradiva: Neznano Tipologija: 1.02 - Pregledni znanstveni članek Organizacija: UNG - Univerza v Novi Gorici Ključne besede: photothermal techniques, beam deflection spectrometry, material characterization Datum objave: 01.06.2023 Leto izida: 2023 Št. strani: str. 1-24 Številčenje: Vol. 133, issue 21, [article no.] 211101 PID: 20.500.12556/RUNG-8258-ae8a23b6-da92-8d89-ccf6-e5591cb6cbce  COBISS.SI-ID: 155461891  UDK: 54 ISSN pri članku: 0021-8979 DOI: 10.1063/5.0148079  NUK URN: URN:SI:UNG:REP:HWOMUO20 Datum objave v RUNG: 13.06.2023 Število ogledov: 917 Število prenosov: 2 Metapodatki:     Citiraj gradivo Navadno besedilo BibTeX EndNote XML EndNote/Refer RIS ABNT ACM Ref AMA APA Chicago 17th Author-Date Harvard IEEE ISO 690 MLA Vancouver : Kopiraj citat

Skupna ocena: (0 glasov) Vaša ocena: Ocenjevanje je dovoljeno samo prijavljenim uporabnikom. Objavi na: Postavite miškin kazalec na naslov za izpis povzetka. Klik na naslov izpiše podrobnosti ali sproži prenos.

Gradivo je del revije

Naslov:	Journal of applied physics
Skrajšan naslov:	J. appl. phys.
Založnik:	American Institute of Physics.
ISSN:	0021-8979
COBISS.SI-ID:	4730378

Nazaj