Repository of University of Nova Gorica

Search the repository
A+ | A- | Help | SLO | ENG

Query: search in
search in
search in
search in
* old and bolonia study programme

Options:
  Reset


1 - 3 / 3
First pagePrevious page1Next pageLast page
1.
Preiskave polimernih tankih slojev z mikroskopom na atomsko silo
Jan Ferjančič, 2010, undergraduate thesis

Found in: ključnih besedah
Summary of found: ...naBeseda">naloge, organske sončne celice, polimerni tanki sloji, naBeseda">naBeseda">naBeseda">naBeseda">naBeseda">mikroskop naBeseda">na naBeseda">atomsko naBeseda">silo, morfologija polimerne plasti, ...
Keywords: diplomske naloge, organske sončne celice, polimerni tanki sloji, mikroskop na atomsko silo, morfologija polimerne plasti
Published: 15.10.2013; Views: 3148; Downloads: 212
URL Fulltext (0,00 KB)
This document has many files! More...

2.
Conductive atomic force microscopy investigations of quantum dots and quantum rings
Tomaž Mlakar, 2011, master's thesis

Found in: ključnih besedah
Summary of found: ...kvantne pike, kvantni obroči, naBeseda">naBeseda">naBeseda">naBeseda">naBeseda">mikroskop naBeseda">na naBeseda">atomsko naBeseda">silo, modeliranje prevodnosti, metoda prenosnih...
Keywords: kvantne pike, kvantni obroči, mikroskop na atomsko silo, modeliranje prevodnosti, metoda prenosnih matrik, magistrske naloge
Published: 15.10.2013; Views: 2275; Downloads: 192
URL Fulltext (0,00 KB)
This document has many files! More...

3.
ZAČETNE FAZE RASTI ORGANSKIH POLPREVODNIKOV NA SiO2
Alen Oršulić, 2018, master's thesis

Abstract: Pričujoče delo obravnava začetne faze rasti organskega polprevodnika N, N´-1H, 1H- perfluorobutil diciano perilen karboksamid (PDIF-CN2) na površini silicijevega dioksida (SiO2). PDIF-CN2 je bil na površino SiO2 nanešen z rotacijskim nanašalcem pod različnimi pogoji. Glede na pogoje nanosa se je spreminjala morfologija narejenih vzorcev. Morfologije so bile analizirane z mikroskopom na atomsko silo. S slik mikroskopa na atomsko silo smo z višinsko porazdelitvijo in funkcijo spektralne gostote moči pridobili podatke o prekritosti vzorcev z otoki molekul PDIF-CN2, višini otokov na površini vzorca, povprečni hrapavosti vzorca, korelacijski dolžini med otoki ter spektralni dolžini in indeksu. Z višinsko porazdelitvijo je bilo ugotovljeno, da znaša povprečna višina otokov na površini vzorcev približno 1,1 nm in da se prekritost vzorcev z molekulami povečuje s povečevanjem koncentracije raztopine in zmanjševanjem kotne hitrosti pri nanosu z rotacijskim nanašalcem. Analiza funkcije spektralne gostote moči površin je pokazala, da je pri večini vzorcev korelacijska dolžina čez celotno preiskano območje, da se povprečna hrapavost povečuje s povečevanjem koncentracije raztopine in kotne hitrosti ter da pospešek pri rotacijskem nanašanju skupaj s kotno hitrostjo vpliva na obliko fraktalov na površini vzorcev.
Found in: ključnih besedah
Summary of found: ...PDIF-CN2, naBeseda">naBeseda">naBeseda">naBeseda">naBeseda">mikroskop naBeseda">na naBeseda">atomsko naBeseda">silo, rotacijsko naBeseda">nanaBeseda">našanje, Gwyddion, avtokorelacijska... ...so bile anaBeseda">nalizirane z naBeseda">naBeseda">naBeseda">mikroskopom naBeseda">na naBeseda">atomsko naBeseda">naBeseda">naBeseda">silo. S slik naBeseda">naBeseda">naBeseda">mikroskopa naBeseda">na naBeseda">atomsko naBeseda">silo smo...
Keywords: PDIF-CN2, mikroskop na atomsko silo, rotacijsko nanašanje, Gwyddion, avtokorelacijska funkcija, funkcija spektralne gostote moči.
Published: 24.09.2018; Views: 734; Downloads: 51
.pdf Fulltext (2,26 MB)

Search done in 0 sec.
Back to top