Repository of University of Nova Gorica

Search the repository
A+ | A- | Help | SLO | ENG

Query: search in
search in
search in
search in
* old and bolonia study programme

Options:
  Reset


1 - 2 / 2
First pagePrevious page1Next pageLast page
1.
Graphene/organic semiconductor systems
JINTA MATHEW, 2017, doctoral dissertation

Found in: ključnih besedah
Summary of found: ...GRAPHENE, PDIF-CN2, ATOMIC FORCE MICROSCOPY, ORGANIC THIN FILM TRANSISTOR,...
Keywords: GRAPHENE, PDIF-CN2, ATOMIC FORCE MICROSCOPY, ORGANIC THIN FILM TRANSISTOR, OSTWALD RIPENING.
Published: 15.09.2017; Views: 5540; Downloads: 168
.pdf Fulltext (41,84 MB)

2.
ZAČETNE FAZE RASTI ORGANSKIH POLPREVODNIKOV NA SiO2
Alen Oršulić, 2018, master's thesis

Abstract: Pričujoče delo obravnava začetne faze rasti organskega polprevodnika N, N´-1H, 1H- perfluorobutil diciano perilen karboksamid (PDIF-CN2) na površini silicijevega dioksida (SiO2). PDIF-CN2 je bil na površino SiO2 nanešen z rotacijskim nanašalcem pod različnimi pogoji. Glede na pogoje nanosa se je spreminjala morfologija narejenih vzorcev. Morfologije so bile analizirane z mikroskopom na atomsko silo. S slik mikroskopa na atomsko silo smo z višinsko porazdelitvijo in funkcijo spektralne gostote moči pridobili podatke o prekritosti vzorcev z otoki molekul PDIF-CN2, višini otokov na površini vzorca, povprečni hrapavosti vzorca, korelacijski dolžini med otoki ter spektralni dolžini in indeksu. Z višinsko porazdelitvijo je bilo ugotovljeno, da znaša povprečna višina otokov na površini vzorcev približno 1,1 nm in da se prekritost vzorcev z molekulami povečuje s povečevanjem koncentracije raztopine in zmanjševanjem kotne hitrosti pri nanosu z rotacijskim nanašalcem. Analiza funkcije spektralne gostote moči površin je pokazala, da je pri večini vzorcev korelacijska dolžina čez celotno preiskano območje, da se povprečna hrapavost povečuje s povečevanjem koncentracije raztopine in kotne hitrosti ter da pospešek pri rotacijskem nanašanju skupaj s kotno hitrostjo vpliva na obliko fraktalov na površini vzorcev.
Found in: ključnih besedah
Summary of found: ...N, N´-1H, 1H- perfluorobutil diciano perilen karboksamid ( PDIF-CN2) na površini silicijevega dioksida (SiO2). PDIF-CN2 je...
Keywords: PDIF-CN2, mikroskop na atomsko silo, rotacijsko nanašanje, Gwyddion, avtokorelacijska funkcija, funkcija spektralne gostote moči.
Published: 24.09.2018; Views: 3825; Downloads: 156
.pdf Fulltext (2,26 MB)

Search done in 0 sec.
Back to top